海瑞IOL | 20年技术领航，率先攻克GaN测试

深耕封装可靠性测试20年，海瑞IOL始终定义行业标准。

间歇工作寿命（IOL）测试是评估功率器件封装质量的核心环节。通过模拟器件反复开关的实际工况，精准捕捉封装界面在热机械应力下的退化行为，为产品可靠性提供关键数据支撑。

✦ GaN全面支持，填补市场空白第三代半导体时代，GaN器件凭借高频、高效、耐高温特性成为功率电子的未来方向。然而，GaN的测试需求对设备提出了更高要求。海瑞IOL率先突破技术壁垒，成为市场上为数不多能够完整支持GaN器件间歇寿命测试的解决方案，助力客户抢占第三代半导体先机。

✦ 高精度结温测量，数据精准可信结温是IOL测试的核心参数，直接关系到寿命预测的准确性。结温测不准意味着器件永远做不坏，不失效，从而误导用户造成重大损失。海瑞延续20年技术积淀，采用先进的结温提取算法，确保测量结果稳定、可靠、可重复，为封装工艺优化和失效分析提供坚实的数据基础。

✦ 头部客户验证，品质经得起考验海瑞IOL已成功交付三安光电、芯联集成等行业领军企业，在实际量产环境中经受住严苛考验，赢得客户高度认可。

二十年专注，二十年领先。从传统Si器件到SiC、GaN第三代半导体，海瑞始终站在IOL测试技术的最前沿。选择海瑞，选择经过时间检验的可靠性测试专家。